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8英寸射频测试探针台MPS200X报价
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8英寸射频测试探针台MPS200X报价

应用方向:

主要用于GaAs射频芯片S参数测试GaN/SiC功率器件的IV参数测试、阻抗参数的测试测量

技术指标:

测试Wafer尺寸:2英寸~8英寸
Chuck XY向行程205mm*205mm
Chuck
移动分辨率:旋钮调节
Chuck旋转范围: ±10°微调

Chuck Z向接触分离:1mm
Chuck
真空: 分三档输入
台面
Z向行程:3mm,接触分离1mm
上下片方式:快速抽拉上下片
视频显示系统
:体式显微镜加装CCD


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