室温自动探针台
室温环境下的自动探针台,多用于晶圆的自动测量。提供4寸至8寸的不同规格,4到8个...
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AP200 用于4~8英寸半导体、集成电路、分立器件晶圆的全自动探针测试。配备有...

应用:PD/APD芯片IV及电容参数筛选测试。功能:Wafer Map图描述:通...

应用方向:PD/APD芯片参数筛选测试,GaAs射频芯片S参数测试,MEMS晶圆...

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