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TPS200XT 变温型探针台针对功率器件、光电器件、射频器件晶圆片测试而设计的...
描述:TPS-200变温型探针台针对功率器件、光电器件、射频器件晶圆片测试而设计...
技术指标: 可测试Wafer尺寸:2英寸~6英寸 变温范围:常温~300℃Chu...