TPS200变温探针台
TPS200XT 变温型探针台针对功率器件、光电器件、射频器件晶圆片测试而设计的...
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18502873311TPS200XT 变温型探针台针对功率器件、光电器件、射频器件晶圆片测试而设计的一体化在片测 试解决方案。可提供直流IV、CV、光电参数、射频S参数的测量能力。结合特制的微型密闭腔体, 高低温控制系统,支持晶圆的变温测试从-50℃~150℃。探针台载片台平面采用铝合金镀金保证测 试过程中的低接触电阻、超薄晶圆片处理和功率耗散,同时提供低漏电噪声的保护及屏蔽环境。
TPS200XT 变温型探针台针对功率器件、光电器件、射频器件晶圆片测试而设计的...
描述:TPS-200变温型探针台针对功率器件、光电器件、射频器件晶圆片测试而设计...
技术指标: 可测试Wafer尺寸:2英寸~6英寸 变温范围:常温~300℃Chu...