PD芯片测试专用探针台APS1500PD厂家

应用：

PD/APD芯片IV及电容参数筛选测试。

功能：

Wafer Map图描述：通过工业相机，采用图像算法实时扫描WaferMap图，并自动对Die进行对准识别扎针；

Chuck控制： AutoMap软件和经典键盘多向操控Chuck移动；

Wafer图形模式：圆形、阵列、环形、探边、自定义图形模式；

打点方式：自动喷墨、离线打点、异步打点；

Die坐标查询：实时显示更新Die相对坐标；

测试接口：TTL电平、RS232、GPIB、以太网等多种接口；

数据报告：csv、html、excel、db等；

自动化软件：ATE2000测试软件、AutoMap探针台软件。

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订购热线：18502873311

产品详情

配置：

APS1500：高速6英寸半自动探针台

IV测试：2600B、B2900A系列SMU

电容测试：E4980A、4284A

激光光源：850nm，1310nm，1550nm可选

SR-DT10：喷墨打点器，进口

SR-L10：光纤耦合探针座

SR-CCD：图像采集套件，可实时观察探针视频图像

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