ATE2000芯片测试软件

【产品概述】

ATE2000晶圆级芯片自动化测试软件是硅科锐达（Siradar）自主开发的专业测试平台，专用于晶圆级芯片的IV与CV参数自动筛选测试。该软件可实现对自动探针台与半导体参数测试仪的系统联动控制，完成整片晶圆上所有芯片的自动化测试，并输出良率统计、Wafer MAP与分Bin结果。

【核心优势】

· 全自动联动：自动探针台 + 参数测试仪一体化控制 · 覆盖主流测试项目：IV、CV参数测试与统计分析 · 迭代多版、操作流畅：客户反馈使用体验顺滑，功能与参数覆盖全面 · 模块化设计：结构化开发，支持按客户需求快速定制 · 兼容性强：支持主流厂商测试仪器与探针台

【应用场景】

Fab产线与中试线的晶圆级自动化测试、封测厂芯片参数筛选、芯片实验室研发验证、功率器件与光电芯片的电参数测试。

【配套方案】

可与砺针2000系列自动探针台、探微200系列手动探针台组合，形成完整的晶圆芯片自动化测试系统。

【咨询】电话：182-8159-2657