18502873311

光电芯片测试系统方案

用途:光电类芯片、功率器件、传感器类、射频微波类

功能:实现IV、CV、阻抗、射频S参数、TDR测试统计分析、参数提取、高低温特性

系统构成:探微200系列手动探针台、针卡、探针、ATE2000芯片自动化测试软件、测试仪

解决方案

Solution