芯片测试服务

我们全新搭建的专业芯片测试间已全面投入使用，正式面向半导体企业、科研院所及电子制造商，提供灵活、高效的晶圆级芯片电学性能测试（CP测试） 服务。

测试对象覆盖AI芯片、存储芯片、射频芯片及其他各类集成电路。测试能力涵盖直流IV、CV及射频参数，可满足晶圆级多类电学性能测试需求。

以往，客户如需CP测试，往往需要自行购置探针台、仪器，并搭建测试环境，投入高、周期长。现在，您可以选择我们提供的两种服务模式：一是全委托测试，您只需提供待测芯片并说明测试要求，由我们专业的工程师完成全部测试并出具报告；二是上门自主操作，您可带自己的测试工程师到现场，使用我们的探针台及仪器自主完成测试，特别适合来料抽检、自研芯片前期功能验证或需要频繁复测的项目。

典型应用场景包括：前端晶圆来料抽检，防止不良品流入产线；自研芯片流片后的快速功能验证；高校院所的小批量科研测试。我们的测试间配备了手动/半自动探针台、Keysight B1500A等主流仪器源表，并具备千级无尘测试环境等专业环境，确保测试数据准确、可靠、可重复。

欢迎有测试需求的客户随时联系我们。服务按批次或测试项灵活计费，电话：182-8159-2657，邮箱：info@siradar.com。地址：成都高新区孵化园1号楼A1-17/A4-37。