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SR-T100DC 是一款面向直流精密测量的探针座,配合探针使用,安装在手动探针台或自动探针台上,对待测芯片的电极 PAD 进行精准加电与信号拾取。其 2μm 级的线性解析能力,让微米级 PAD 的扎针定位既快又稳,是实验室晶圆级测试的基础配件

SR-T80DC 直流探针座采用三向千分尺 XYZ 调节结构,XY 两向调节手轮同侧布置,多探针座并排使用时不互相干涉,有效减少占地面积——在探针台上布置多针位测试时,直接提升操作效率。

直流探针座SR-T80K,三向千分尺XYZ调节,XY向同侧,减少占地面积

SR-T80RF 是面向射频/微波在片测试的探针座。与直流探针座更大的区别在于:它带独立的射频探针支架,GSG 或 GS 型射频探针的平面偏转角度可调——射频探针对焊盘的接触角度极其敏感,角度不对会直接恶化回波损耗,这个可调结构正是射频在片测试可靠性的关键。

SR-D10 精密探针座是面向晶圆级测试的通用型探针座,配合探针完成对待测芯片电极的精密定位与接触。XYZ 三向精密调节配合磁力底座,兼顾定位精度与操作效率,是实验室与产线探针台的常用配置。

SR-OP-V01 垂直光纤探头是光电芯片在片测试的核心配件。光电芯片(PD/APD、VCSEL、硅光等)的电极在晶圆表面、光耦合面朝上,必须用垂直入射的光纤把光信号对准光敏区,同时用电学探针完成加电。

SR-D10 多功能精密探针座在常规探针座的基础上增加了二合一"探针 + 探边"功能:同一套机构既能完成电学扎针,又能辅助完成边缘探测,减少换装次数,提高测试效率。底座支持拆卸螺丝固定,也可选配微分表进行精细调节,适配多种测试场景。