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高功率SiC芯片测试方案

用途:适用于芯片制造厂Fab产线、中试线、芯片实验室

功能:可自动完成8寸晶圆的芯片IV、CV、S电参数测试、芯片良率、分Bin、喷墨打点

系统构成:砺针2000系列自动探针台、针卡、探针、ATE2000芯片自动化测试软件和测试仪组成

解决方案

Solution