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功率器件测试系统方案

用途:适用于MOSFET等半导体器件的阻抗参数测试,面向芯片量产产线及测试车间

功能:可测试MOSFET串并联等效电路中的电阻R、电容C、电感L参数;支持固定频点、扫频、扫幅及加直流偏置等多种测试条件

系统构成:由阻抗测试仪、主流机械手、测试控制软件及数据自动上传管理系统组成

解决方案

Solution