源测量单元SMU

【典型测试用途】 

· IV 曲线测试：二极管、晶体管、光电器件的直流特性 

· 漏电流测试：pA 级微弱电流测量（绝缘/栅氧漏电） 

· 击穿特性测试：高压击穿与耐压表征 

· 芯片 IO 参数测试：驱动能力、静态功耗 

 【选型要点】 

1. 电流量程与分辨率：测漏电要看 pA 级下限；

2. 电压范围：功率器件测试需高压型号； 

3. 通道数：多引脚并行测试需多 SMU 同步； 

4. 与探针台的联调：接口、线缆、屏蔽都影响实际精度。 

【我们的供货优势】 

依托香港贸易公司自营进口通道，主流品牌 是德SMU 货源稳定、货期短、价格有优势。SMU 可以与我们的手动/半自动探针台、ATE2000 测试软件成套交付、联调到位，实现整片晶圆的自动 IV/CV 筛选。采购咨询：182-8159-2657。