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SR-T80RF射频探针座

SR-T80RF 是面向射频/微波在片测试的探针座。与直流探针座更大的区别在于:它带独立的射频探针支架,GSG 或 GS 型射频探针的平面偏转角度可调——射频探针对焊盘的接触角度极其敏感,角度不对会直接恶化回波损耗,这个可调结构正是射频在片测试可靠性的关键。

所属分类:探针座
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产品描述

技术指标:

  1. X-Y-Z 移动行程: 12.5mm x 12.5mm x 12.5mm

  2. 线性解析:100TPI,分辨率<1um

  3. 带磁力开关

  4. 带固定探针机构,可调节射频探针水平角度

  5.  尺寸: 140mm(W)x60mm(D)x125mm(H) 

  6. 射频探针座SR-T80RF,三向千分尺XYZ调节,XY向同侧,减少占地面积;带射频探针支架;射频探针GSG或者GS针尖平面偏转角度可调

典型应用

 · 晶圆在片 S 参数测试(与矢量网络分析仪联用)

 · 射频芯片(PA、LNA、开关、滤波器)在片表征 · 毫米波器件的晶圆级调试与筛选