晶圆级芯片IV测试中——助力半导体企业加速量产

【我们的芯片测试间，已稳定运行数月】

从今年年初开放以来，硅科锐达的芯片测试间已经稳定运行数月，服务了高校、科研院所与多家半导体企业的晶圆级测试需求。 

现在的配置是这样的：

测试硬件：手动/半自动探针台、是德科技B1500等主流仪器源表；

环境保障：千级无尘测试间，满足高精度测试要求；

定制能力：可快速定制探针卡、测试夹具，协调仪器资源，按需搭建完整测试环境。

（图片1：芯片测试实拍图）

（图片2：部分仪器实拍图）

【晶圆级 IV 测试，到底测什么】

 IV 测试（电流-电压特性测试）是芯片电学性能测试中最基础也最关键的一环。在探针台上，探针卡直接扎到晶圆上每一个 Die 的 PAD 上，逐点加电、逐点采集，得到的是这颗芯片最真实的电学特性。 

我们目前承接的测试项目包括：

 · 直流 IV 特性测试：二极管正向压降、反向漏电、晶体管转移特性与输出特性； 

· 电容-电压 CV 测试：结电容、MOS 电容特性提取；

 · 低电流/漏电流测试：pA 级微小电流测量； 

· 高压测试：更高支持 10kV 高压加电（详见高压测试平台介绍）； 

【为什么选我们做晶圆测试】 

 团队拥有丰富的芯片测量与系统集成经验，能高效应对晶圆级芯片的直流/交流参数测试需求。无论您是研发验证、小批量抽测，还是故障分析，我们都可提供灵活、快速的测试支持。 

 · 仪器齐全：主流品牌参数分析仪、源表、LCR 表一应俱全，无需您自建测试环境；

 · 环境达标：千级无尘测试间，数据准确、可靠、可重复； · 响应快：成都本地测试间，川渝地区可当天送样；

 · 灵活计费：按小时或按批次计费，支持紧急订单排期； · 长期合作：小批量、多批次、需要频繁复测的项目，我们也能稳定配合。 

 【晶圆测试，欢迎随时联系】

 如果您手头有晶圆需要做 IV/CV 参数测试，但缺探针台、缺仪器、缺测试环境，可以直接把样品寄给我们做来样测试。测试完成后我们出具规范的数据报告。

 如果您需要长期、批量地做晶圆级芯片测试，我们也可以提供整套晶圆测试系统的定制集成——从手动/半自动探针台选型，到 ATE2000 芯片测试软件配置，再到与您现有仪器的联调，一站式交付。

 电话：182-8159-2657　邮箱：info@siradar.com 地址：成都市高新区天府大道北段1480号孵化园1号楼