自动探针台
手动探针台
低温/液氮液氦探针台
芯片测试系统/系统集成
芯片测试软件
芯片测试服务
针卡耗材
仪器代理
高功率SiC芯片测试方案
功率器件测试系统方案
光电芯片测试系统方案
超高压SiC模块测试方案
企业动态
技术资讯
企业简介
企业文化
发展历程
荣誉资质
招贤纳士
联系方式
在线留言
系统特性
ü 测试阻抗参数有:MOSFET串并联等效电路模型中电阻R、电容C、电感L参数
ü 测试速度:UPH>18000个器件/小时
ü 测试条件:固定频点测试R、C、L,扫频测试,扫幅测试,加直流偏置测试
ü 系统支持主流机械手相互触发控制
ü 软件针对器件类型测试条件设定、保存功能,方便后续调用管理
ü 软件测试数据为半导体业界的标准STDF数据库格式
ü 软件支持数据判据条件设定,可对器件进行分类筛选
ü 支持原始数据自动上传企业服务器
ü 支持LXI总线通信